Test structures for studying flexible interconnect supported by carbon nanotube scaffolds
Paper i proceeding, 2017
Författare
Kjell Jeppson
Elektronikmaterial och system
Di Jiang
Elektronikmaterial och system
Shuangxi Sun
Elektronikmaterial och system
Michael Edwards
Elektronikmaterial och system
International Conference on Microelectronic Test Structures
Vol. 2017
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik
Nanoteknik