Analysis of WC with increased Ta doping
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2015
APT
SEM
XRD
EBSD
Scanning electron microscopy
Författare
Jonathan Weidow
Chalmers, Teknisk fysik, Materialens mikrostruktur
E. Halwax
Technische Universitat Wien
W. D. Schubert
Technische Universitat Wien
International Journal of Refractory Metals & Hard Materials
2213-3917 (eISSN)
Vol. 51 56-60Ämneskategorier (SSIF 2011)
Metallurgi och metalliska material
DOI
10.1016/j.ijrmhm.2015.03.001