Characterization of Interface Defects
Kapitel i bok, 2010
LF noise
Charge pumping
Interface defect
C-V response
Low frequency noise
Författare
P.K. Hurley
Tyndall National Institute at National University of Ireland, Cork
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
D. Bauza
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
G. Ghibaudo
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
Nanoscale CMOS (ed. Balestra)
545-573
9781848211803 (ISBN)
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1002/9781118621523.ch15
ISBN
9781848211803