Quantum Hall Effect and Quantum Point Contact in Bilayer-Patched Epitaxial Graphene
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014
monolayer and bilayer graphene
resistance metrology
quantum hall effect
SiC epitaxial graphene
scanning gate microscopy
quantum point contact
Författare
C. Chua
University of Cambridge
M. Connolly
National Physical Laboratory
University of Cambridge
Arseniy Lartsev
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
Thomas Yager
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
Samuel Lara Avila
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
Sergey Kubatkin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
S. Kopylov
Lancaster University
V. Fal'ko
Lancaster University
R. Yakimova
Linkopings universitet
R. Pearce
National Physical Laboratory
Tjbm Janssen
National Physical Laboratory
A.Y. Tzalenchuk
National Physical Laboratory
Royal Holloway University of London
C. G. Smith
University of Cambridge
Nano Letters
1530-6984 (ISSN) 1530-6992 (eISSN)
Vol. 14 6 3369-3373Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Fysik
DOI
10.1021/nl5008757