RF characterization of cold-electron bolometer integrated with a unilateral finline
Paper i proceeding, 2012
e-beam lithography
Millimeter-wave detectors
Nanotechnology
Nanodevices
RF testing
Författare
Ernst Otto
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
P. K. Grimes
Smithsonian Astrophysical Observatory
University of Oxford
G. Yassin
University of Oxford
Mikhail Tarasov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
Leonid Kuzmin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik
S. Withington
University of Cambridge
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
0277786X (ISSN) 1996756X (eISSN)
Vol. 8452 Art. no. 84521X- 84521X978-081949153-4 (ISBN)
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1117/12.926201
ISBN
978-081949153-4