The influence of inhomogeneous trap distribution on results of DLTS study
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
spectroscopy
v7
p399
semiconductors
1989
molecular-beam epitaxy
electron traps
and n
Författare
M. Kaczmarczyk
Instytut Technologii Elektronowej
M. Kaniewska
Instytut Technologii Elektronowej
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Microelectronics and Reliability
0026-2714 (ISSN)
Vol. 51 7 1159-1161Ämneskategorier (SSIF 2011)
Fysik
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1016/j.microrel.2011.01.011