Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers (Invited)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Författare
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
Bahman Raeissi
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
Johan Piscator
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)
I. Z. Mitrovic
S. Hall
H. D. B. Gottlob
M Schmidt
Bahman Raeissi
K. Cherkaoui
Journal of Telecommunications and Information Technology
1509-4553 (ISSN) 1899-8852 (eISSN)
Vol. 1 10-Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Övrig annan teknik
Elektroteknik och elektronik