Evaluation of new and improved thermal interface materials and surface roughness effect on thermal interface resistance
Paper i proceeding, 2009

Författare

Carl Zandén

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system

Björn Carlberg

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system

Johan Liu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system

Proceedings of the The International 3rd Swedish Production Symposium (SPS)

88-96
978-91-633-6006-0 (ISBN)

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Materialteknik

ISBN

978-91-633-6006-0

Mer information

Skapat

2017-10-07