Probe fabrication for a scanning single-electron-transistor
Licentiatavhandling, 2004

cantilever

SET

scanning probe

scanning SET

fabrication yield

charging energy

nano fabrication

Författare

Henrik Brenning

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Nanoteknik

Mer information

Skapat

2017-10-07