Noise temperature of an electronic tuner for noise parameter measurement systems
Paper i proceeding, 2012
Författare
Olle Axelsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Mattias Thorsell
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Kristoffer Andersson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Jörgen Stenarson
SP Technical Research Institute of Sweden
Yves Rolain
Vrije Universiteit Brussel
79th ARFTG Microwave Measurement Conference: Non-Linear Measurement Systems, ARFTG 2012, Montreal, QC: 22 June through 22 June 2012
Article number 6291197-
978-146731230-1 (ISBN)
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/ARFTG79.2012.6291197
ISBN
978-146731230-1