Admittance spectroscopy of Si/LaLuO3 and Si/GdSiO MOS Structures (Invited)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2012
Författare
F. Ducroquet
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
H. D. B. Gottlob
J. M. J. Lopes
J. Schubert
ECS Transactions
1938-5862 (ISSN) 1938-6737 (eISSN)
Vol. 45 3 103 - 117Ämneskategorier (SSIF 2011)
Nanoteknik
Annan elektroteknik och elektronik