High-resolution core-level spectroscopy study of the ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
root-5)r27-degrees-o surface oxide
photoemission
oxidation
al2o3
electron-spectroscopy
particles
leed
x-ray-diffraction
metals
Författare
N. M. Martin
J. Knudsen
S. Blomberg
J. Gustafson
J. N. Andersen
E. Lundgren
Hanna Härelind
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi
Kompetenscentrum katalys (KCK)
Per-Anders Carlsson
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi
Kompetenscentrum katalys (KCK)
Magnus Skoglundh
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi
Kompetenscentrum katalys (KCK)
A. Stierle
G. Kresse
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
1098-0121 (ISSN)
Vol. 83 12Drivkrafter
Hållbar utveckling
Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Transport
Energi
Materialvetenskap
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Kemi
DOI
10.1103/PhysRevB.83.125417