Interface trap properties of thermally oxidized n-type 4H-SiC and 6H-SiC
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2005
Författare
Tamara Rudenko
I. Osiyuk
I. Tyagulski
Halldor Olafsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Einar Sveinbjörnsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Solid State Electronics
Vol. 49 545-553
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Den kondenserade materiens fysik