Ab initio structure modelling of complex thin-film oxides: thermodynamical stability of TiC/thin-film alumina
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Structure modeling
thin films
interfaces
DFT
oxides
Författare
Jochen Rohrer
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system
Carlo Ruberto
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system
Chalmers, Teknisk fysik, Material- och ytteori
Per Hyldgaard
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Elektronikmaterial och system
Journal of Physics Condensed Matter
0953-8984 (ISSN)
Vol. 22 1 015004- 015004Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Materialvetenskap
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik
Övrig annan teknik
Kemiska processer
Annan fysik
Den kondenserade materiens fysik
Drivkrafter
Innovation och entreprenörskap
DOI
10.1088/0953-8984/22/1/015004