NANOSIL network of excellence - silicon based nanostructures and nanodevices for long-term nanoelectronics applications
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
NANOSIL Network of Excellence [NANOSIL NoE web site
], funded by the European Commission in the 7th Framework Programme (ICT-FP7, no 216171), aims at European scale integration of the excellent European research laboratories and their capabilities in order to strengthen scientific and technological excellence in the field of nanoelectronic materials and devices for terascale integrated circuits (ICs), and to disseminating the results in a wide scientific and industrial community.
NANOSIL is exploring and assessing the science and technological aspects of nanodevices and operational regimes relevant to the n+4 technology node and beyond. It encompasses projects on nanoscale CMOS and beyond-CMOS. Innovative concepts, technologies and device architectures are proposed-with fabrication down to the finest features, and utilising a wide spectrum of advanced deposition and processing capabilities, extensive characterization and very rigorous device modeling. This work is carried out through a network of joint processing, characterization and modeling platforms. This critical interaction strengthens European integration in nanoelectronics and will speed up technological innovation for the nanoelectronics of the next two to three decades.
Nanoelectronic structures
Nanowires
Nanodevices
Carbon electronics
Beyond-CMOS
CMOS
Författare
F Balestra
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
IMEP-FMNT
E Parker
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
The University of Warwick
D Leadley
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
The University of Warwick
S Mantl
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
Forschungszentrum Jülich (FZJ)
E. Dubois
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
IEMN Institut d'Electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie
Olof Engström
Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik
R Clerc
IMEP-FMNT
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
S Cristoloveanu
IMEP-FMNT
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
M.C. Lemme
Rheinisch-Westfalische Technische Hochschule Aachen
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
J. P. Raskin
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
Universite Catholique de Louvain
M.C. Lemme
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
A Ionesco
Ecole Polytechnique Federale de Lausanne
K. E. Moselund
Ecole Polytechnique Federale de Lausanne
K Boucart
Ecole Polytechnique Federale de Lausanne
E Kasper
Universitat Stuttgart
A Karmous
Universitat Stuttgart
M Baus
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
B Spangenberg
Rheinisch-Westfalische Technische Hochschule Aachen
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
Mikael Östling
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
The Royal Institute of Technology (KTH)
E Sangiorgi
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
G Ghibaudo
IMEP-FMNT
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
D Flandre
Universite Catholique de Louvain
Institut de la Microelectronique, Electromagnetisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfrequences et de Caracterisation
Materials Science in Semiconductor Processing
1369-8001 (ISSN)
Vol. 11 5 148-Ämneskategorier (SSIF 2011)
Annan teknik
DOI
10.1016/j.mssp.2008.09.017